SI信號完整性測試主要測試內(nèi)容之一 波形完整性

現(xiàn)在的高速數(shù)字系統(tǒng)的時鐘頻率可能高達數(shù)百兆Hz，其快斜率瞬變和極高的工作頻率， 以及很大的電路密集度，必將使得系統(tǒng)表現(xiàn)出與低速設計截然不同的行為，出現(xiàn)了信號完整 性問題。破壞了信號完整性將直接導致信號失真、定時錯誤，以及產(chǎn)生不正確數(shù)據(jù)、地址和 控制信號，從而造成系統(tǒng)誤工作甚至導致系統(tǒng)崩潰。因此，信號完整性問題已經(jīng)越來越引起高速數(shù)字電路設計人員的關注。 如果電路中信號能夠以要求的時序、持續(xù)時間和電壓幅度到達 IC，則該電路具有較好的信號完整性。反之，當信號不能正常響應時， 就出現(xiàn)了信號完整性問題。 SI（Signal Integrity ） 解決的是信號傳輸過程中的質(zhì)量問題，尤其是在高速領域，數(shù)字信號的傳輸不能只考慮邏輯上的實現(xiàn)，物理實現(xiàn)中數(shù)字器件開關行為的模擬效果往往成為設計成敗的關鍵。

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高速電路測試服務項目有：① SI信號完整性測試，主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。② PI電源完整性測試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。