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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-14 02:31 |
| 最后更新： | 2023-12-14 02:31 |
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過(guò)沖就是第一個(gè)峰值或谷值超過(guò)設(shè)定電壓對(duì)于上升沿是指最高電壓而對(duì)于下降沿是指最低電壓。下沖是指下一個(gè)谷值或峰值。過(guò)分的過(guò)沖能夠引起保護(hù)二極管工作,導(dǎo)致過(guò)早地失效。過(guò)分的下沖能夠引起假的時(shí)鐘或數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。 振蕩的現(xiàn)象是反復(fù)出現(xiàn)過(guò)沖和下沖。信號(hào)的振蕩和環(huán)繞振蕩由線上過(guò)度的電感和電容引起,振蕩屬于欠阻尼狀態(tài)而環(huán)繞振蕩屬于過(guò)阻尼狀態(tài)。信號(hào)完整性問(wèn)題通常發(fā)生 在周期信號(hào)中,如時(shí)鐘等,振蕩和環(huán)繞振蕩同反射一樣也是由多種因素引起的,振蕩可以通過(guò)適當(dāng)?shù)亩私佑枰詼p小,但是不可能完全消除。
北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測(cè)試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。
高速電路測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目有：① SI信號(hào)完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測(cè)試、URAT測(cè)試、網(wǎng)口測(cè)試、USB2.0/USB3.0測(cè)試、MIPI測(cè)試、HDMI測(cè)試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測(cè)試。② PI電源完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。
