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發(fā)布時(shí)間: | 2024-11-10 09:15 |
最后更新: | 2024-11-10 09:15 |
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一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV,正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV;衰老期失效的Ea大于1.0eV。
根據(jù)Compaq可靠度工程部(CRE)的測(cè)試規(guī)范,Ea是機(jī)臺(tái)所有零件Ea的平均值。如果新機(jī)種的Ea無(wú)法計(jì)算,可以將Ea設(shè)為0.67eV,做常數(shù)處理。
加速因子計(jì)算范例:
例1:Ea=0.50eV,Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k,Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.
例2:Ea=0.65eV,Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k,Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1./
4、MTBF計(jì)算范例:
例1:某機(jī)型為例:30臺(tái)樣品,信心度為0.6,MTBF目標(biāo)值為240000小時(shí),用戶(hù)使用溫度為35度,測(cè)試溫度為40度。
假設(shè)在測(cè)試結(jié)束前不失效,求總的運(yùn)行時(shí)間T及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)D。
解:MTBF=240000h,AF=1.47,C=0.6,α=1-C=0.4,r=0, X2(α,2r+2)=1.83
240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h
D=T/(30*24)==206.60天
(2)假設(shè)在測(cè)試11天后,有一臺(tái)失效,不替換失效樣品,即29臺(tái)接著測(cè)試,求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
解:MTBF=240000h,AF=1.47,C=0.6,α=1-C=0.4,r=1, X2(α,2r+2)=4.04
注意:此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天
D=d+11=460.31 + 11=471.31天
(3)假設(shè)在測(cè)試11天后,有一臺(tái)失效,替換失效樣品,即仍然是30臺(tái)接著測(cè)試,求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天
b: 此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天
D=d+11=444.97 + 11=455.97天
MTBF測(cè)試,Burn-in測(cè)試,ALT區(qū)別:
圖片
Burn-in:“老化”測(cè)試,指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下,使其特性達(dá)到穩(wěn)定的方法。
ALT:Accelerated life test,加速壽命測(cè)試,是在超過(guò)使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對(duì)樣品進(jìn)行的壽命試驗(yàn)。