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發(fā)布時(shí)間: | 2024-03-06 06:57 |
最后更新: | 2024-03-06 06:57 |
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金絲球焊是目前半導(dǎo)體器件芯片封裝焊接工藝中具有代表性的焊接技術(shù),焊接過程通過熱、超聲、壓力的共同作用形成,工藝參數(shù)調(diào)試得當(dāng)與否直接影響到封裝器件的質(zhì)量和可靠性。將焊料球從基板材上拔除,以測量芯片焊球和基板之間的附著力,評估焊球能夠承受機(jī)械剪切的能力,可能是元器件在制造、處理、檢驗(yàn)、運(yùn)輸和使用的作用力。是測試膠水、焊料和燒結(jié)銀結(jié)合區(qū)域的理想方法。
判斷球焊質(zhì)量的重要指標(biāo)包含:焊球的高度、焊球的尺寸、拉力測試、一焊剪切力測試。
所謂的焊球高度,是指壓扁在焊盤上的金球高度;而焊球尺寸為焊接時(shí)打在焊墊上的金球所占焊墊的面積大小,一般要求球的尺寸為3~3.5倍線徑。這些焊點(diǎn)形貌參數(shù)主要通過顯微鏡目測來完成。通過顯微鏡目測,還可以發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)各種缺陷而確定焊接質(zhì)量是否滿足要求。
電子組件在焊接、運(yùn)輸、使用等條件下,通常會由于振動、沖擊彎曲變形等,從而在焊點(diǎn)或者器件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,并導(dǎo)致焊點(diǎn)者器件失效。通過測試來模擬焊點(diǎn)的機(jī)械失效模型,分析焊點(diǎn)或器件失效原因,評價(jià)料件的可靠性。
推力測試原理說明:通過左右搖桿將測試頭移動至所測試產(chǎn)品后上方,按測試后,Z軸自動向下移動,當(dāng)測試針頭觸至測試基板表面后,Z向觸信號啟動,停止下降,Z軸向上升至設(shè)定的剪切高度后停止。Y軸按軟件設(shè)定參數(shù)移動,在移動過程中Y軸以一段快速運(yùn)行,當(dāng)Y軸在移動過程中感應(yīng)到設(shè)定觸發(fā)力值時(shí)(即開始測試產(chǎn)品),速度會自動調(diào)整為二段慢速測試,以保證測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
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