DDR16M復(fù)位測試,內(nèi)存信號測試,眼圖測試,SI完整性測試
DDR存儲器電氣特性驗證
幾乎每一個電子設(shè)備，從智能手機(jī)到服務(wù)器，都使用了某種形式的RAM存儲器。盡管閃存NAND繼續(xù)流行(由于各式各樣的消費電子產(chǎn)品的流行)，由于SDRAM為相對較低的每比特成本提供了速度和存儲很好的結(jié)合，SDRAM仍然是大多數(shù)計算機(jī)以及基于計算機(jī)產(chǎn)品的主流存儲器技術(shù)。DDR是雙數(shù)據(jù)速率的SDRAM內(nèi)存，已經(jīng)成為今天存儲器技術(shù)的選擇。DDR技術(shù)不斷發(fā)展，不斷提高速度和容量，同時降低成本，減小功率和存儲設(shè)備的物理尺寸。
隨著時鐘速率和數(shù)據(jù)傳輸速率不斷增加和性能的提高，設(shè)計工程師必須保證系統(tǒng)的性能指標(biāo)，或確保系統(tǒng)內(nèi)部存儲器和存儲器控制設(shè)備的互操作性，存儲器子系統(tǒng)的模擬信號完整性已成為設(shè)計工程師越來越多重點考慮的問題。許多性能問題，甚至在協(xié)議層發(fā)現(xiàn)的問題，也可以追溯到信號完整性問題上。因此，存儲器的模擬信號完整性驗證已經(jīng)成為很多電子設(shè)計驗證關(guān)鍵的一步。
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