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        第三方防靜電檢測機(jī)構(gòu)-CNAS&CMA資質(zhì)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室

        檢測認(rèn)證: 可靠性測試
        材料分析: 有害物質(zhì)
        電氣安全: 安規(guī)測試
        單價(jià): 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時(shí)間: 2023-12-21 04:01
        最后更新: 2023-12-21 04:01
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        發(fā)布企業(yè)資料
        詳細(xì)說明
        靜電放電(ESD: Electrostatic Discharge),應(yīng)該是造成所有電子元器件或集成電路系統(tǒng)造成過度電應(yīng)力(EOS: Electrical Over Stress)破壞的主要元兇。
        因?yàn)殪o電通常瞬間電壓非常高(>幾千伏),所以這種損傷是毀滅性和永 久性的,會造成電路直接燒毀。
        所以預(yù)防靜電損傷是所有IC設(shè)計(jì)和制造的頭號難題。
        靜電,通常都是人為產(chǎn)生的,如生產(chǎn)、組裝、測試、存放、搬運(yùn)等過程中都有可能使得靜電累積在人體、儀器或設(shè)備中,甚至元器件本身也會累積靜電,當(dāng)人們在不知情的情況下使這些帶電的物體接觸就會形成放電路徑,瞬間使得電子元件或系統(tǒng)遭到靜電放電的損壞(這就是為什么以前修電腦都必須要配戴靜電環(huán)托在工作桌上,防止人體的靜電損傷芯片),如同云層中儲存的電荷瞬間擊穿云層產(chǎn)生劇烈的閃電,會把大地劈開一樣,而且通常都是在雨天來臨之際,因?yàn)榭諝鉂穸却笠仔纬蓪?dǎo)電通到。
        那么,如何防止靜電放電損傷呢?首先當(dāng)然改變壞境從源頭減少靜電(比如減少摩擦、少穿羊毛類毛衣、控制空氣溫濕度等),當(dāng)然這不是我們 討論的重點(diǎn)。
         討論的是如何在電路里面設(shè)計(jì)保護(hù)電路,當(dāng)外界有靜電的時(shí)候我們的電子元器件或系統(tǒng)能夠自我保護(hù)避免被靜電損壞(其實(shí)就是安裝一個(gè)避雷針)。
        這也是很多IC設(shè)計(jì)和制造業(yè)者的頭號難題,很多公司有專門設(shè)計(jì)ESD的團(tuán)隊(duì),z基本的理論講起逐步講解ESD保護(hù)的原理及注意點(diǎn), 你會發(fā)現(xiàn)前面講的PN結(jié)/二極管、三極管、MOS管、全都用上了……以前的專題講解PN結(jié)二極管理論的時(shí)候,就講過二極管有一個(gè)特性:正向?qū)ǚ聪蚪刂?不記得就去翻前面的課程),而且反偏電壓繼續(xù)增加會發(fā)生雪崩擊穿(Avalanche Breakdown)而導(dǎo)通,我們稱之為鉗位二極管(Clamp)。
        這正是我們設(shè)計(jì)靜電保護(hù)所需要的理論基礎(chǔ),我們就是利用這個(gè)反向截止特性讓這個(gè)旁路在正常工作時(shí)處于斷開狀態(tài),而外界有靜電的時(shí)候這個(gè)旁路二極管發(fā)生雪崩擊穿而形成旁路通路保護(hù)了內(nèi)部電路或者柵極(是不是類似家里水槽有個(gè)溢水口,防止水龍  頭 忘關(guān)了導(dǎo)致整個(gè)衛(wèi)生間水災(zāi))。
        那么問題來了,這個(gè)擊穿了這個(gè)保護(hù)電路是不是就徹底死了?難道是一次性的?答案當(dāng)然不是。
        PN結(jié)的擊穿分兩種,分別是電擊穿和熱擊穿,電擊穿指的是雪崩擊穿(低濃度)和齊納擊穿(高濃度),而這個(gè)電擊穿主要是載流子碰撞電離產(chǎn)生新的電子-空穴對(electron-hole),所以它是可恢復(fù)的。
        但是熱擊穿是不可恢復(fù)的,因?yàn)闊崃烤奂瘜?dǎo)致硅(Si)被熔融燒毀了。
        所以我們需要控制在導(dǎo)通的瞬間控制電流,一般會在保護(hù)二極管再串聯(lián)一個(gè)高電阻,另外,大家是不是可以舉一反三理解為什么ESD的區(qū)域是不能form Silicide的?還有給大家一個(gè)理論,ESD通常都是在芯片輸入端的Pad旁邊,不能在芯片里面,因?yàn)槲覀兛偸窍M饨绲撵o電需要第 一時(shí)間泄放掉吧, 放在里面會有延遲的(關(guān)注我前面解剖的那個(gè)芯片PAD旁邊都有二極管。
        甚至有放兩級ESD的,達(dá)到雙重保護(hù)的目的。
        在講ESD的原理和Process之前,我們先講下ESD的標(biāo)準(zhǔn)以及測試方法,根據(jù)靜電的產(chǎn)生方式以及對電路的損傷模式不同通常分為四種測試方式: 人體放電模式(HBM: Human-Body Model)、機(jī)器放電模式(Machine Model)、元件充電模式(CDM: Charge-Device Model)、電場感應(yīng)模式(FIM: Field-Induced Model),但是業(yè)界通常使用前兩種模式來測試(HBM, MM)。
        一、人體放電模式(HBM)當(dāng)然就是人體摩擦產(chǎn)生了電荷突然碰到芯片釋放的電荷導(dǎo)致芯片燒毀擊穿,秋天和別人觸碰經(jīng)常觸電就是這個(gè)原因。
        業(yè)界對HBM的ESD標(biāo)準(zhǔn)也有跡可循(MIL- STD-883C method 3015.7,等效人體電容為100pF,等效人體電阻為1.5Kohm),或者國際電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(EIA/JESD22-A114-A)也有規(guī)定,看你要follow哪一份了。
        如果是MIL-STD-883C method 3015.7,它規(guī)定小于

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