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        Nor Flash信號完整性測試,Nor Flash電源完整性測試,Nor Flash時序測試

        單價: 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 直轄市 北京
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時間: 2023-12-18 03:26
        最后更新: 2023-12-18 03:26
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        Nand-Flash的設計

             系統(tǒng)中所采用的Nand-Flash芯片是Samsung公司的K9F2808U。該器件存儲容量為16M×8位,除此之外還有512KX 8位的空閑存儲區(qū)。該器件采用TSSOP48封裝,工作電壓為2.7~3.6V。8位I/O端口采用地址、數(shù)據(jù)和命令復用的方法,這樣既可減少引腳數(shù),又可使接口電路簡捷。

        由于ARM系統(tǒng)沒有Nand-Flash控制所需要的CLE、ALE信號,因此需要利用ARM的通用GPIO口。具體的連接電路如圖7-3所示。


        ?命令鎖存使能(CLE),使輸入的命令發(fā)送到命令寄存器。當變?yōu)楦唠娖綍r,在WE上升沿命令通過I/O口鎖存到命令寄存器。

        ?地址鎖存使能(ALE),控制地址輸入到片內(nèi)的地址寄存器中,地址是在WE的上升沿被鎖存的。

        ?片選使能(CE),用于器件的選擇控制。在讀操作、CE變?yōu)楦唠娖綍r,器件返回到  備用狀態(tài);然而,當器件在寫操作或擦除操作過程中保持忙狀態(tài)時,CE的變高將被忽略,不會返回到備用狀態(tài)。

        ?寫使能(WE),用于控制把命令、地址和數(shù)據(jù)在它的上升沿寫入到I/O端口;而在  讀操作時必須保持高電平。

        ?讀使能(RE),控制把數(shù)據(jù)放到I/O總線上,在它的下降沿tREA時間后數(shù)據(jù)有效;同時使內(nèi)部的列地址自動加1。

        ?I/O端口,用于命令、地址和數(shù)據(jù)的輸入及讀操作時的數(shù)據(jù)輸出。當芯片未選中時,                I/O口為高阻態(tài)。
        ?工寫保護(WP),禁止寫操作和擦除操作。當它有效時,內(nèi)部的高壓生成器將會復位。

        ?準備/忙(R/B),反映當前器件的狀態(tài)。低電平時,表示寫操作或擦除操作以及隨機讀正進行中;當它變?yōu)楦唠娖綍r,表示這些操作已經(jīng)完成。它采用了開漏輸出結構,在芯片未選中時不會保持高阻態(tài)。

        3.3 Nor-F1ash/Nand-FIash跳線選擇

        由于ARM提供了Nand-Flash Boot-loader技術和可選擇的多種啟動方式,因此硬件設計中同時設計了Nor-Flash和Nand-Flash,通過跳線選擇啟動方式,

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