環(huán)境可靠性高低溫試驗(yàn)條件及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室可提供低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、快速溫變?cè)囼?yàn)等高低溫測(cè)試。114檢測(cè)中心對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、橡膠、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫測(cè)試。

高低溫測(cè)試業(yè)務(wù)范圍

1.計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等;

2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等;

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;

4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。

高低溫測(cè)試檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

1.高溫試驗(yàn)

高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。

2.低溫試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、IEC 、EIA 364、MIL-STD-810F等。

3.溫度沖擊試驗(yàn)

溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC4、GB2423.22、GJB150.5等

4.快速溫變?cè)囼?yàn)

快速溫變?cè)囼?yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。

試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時(shí)間以及循環(huán)數(shù)來決定的。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.34、IEC 、JB150.5等。