電子產(chǎn)品、元器件高加速壽命試驗HALT，壽命耐久性測試

高加速老化試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設(shè)計缺陷和不足的過程。老化試驗的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

高加速老化試驗是一種利用階梯應(yīng)力加諸于試品，并在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設(shè)計邊際及結(jié)構(gòu)強度極限的方法。試品通過HALT所暴露的缺陷，涉及線路設(shè)計、工藝、元部件和結(jié)構(gòu)等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計和試產(chǎn)階段，通過試驗，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進和驗證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應(yīng)力，包括振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。

在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設(shè)計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設(shè)計的一種試驗，它應(yīng)用步進的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。為提高試驗效率，所施應(yīng)力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應(yīng)力，通常為高變溫率(至少應(yīng)大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應(yīng)力。高加速壽命試驗得到的應(yīng)力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應(yīng)力篩選的應(yīng)力量值的依據(jù)。

高加速老化試驗：以連續(xù)的測試、失效分析、缺陷改進及驗證構(gòu)成了整個程序，而且可能是個閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個測試計劃，需要重復進行幾次，除非一次性能經(jīng)受加速應(yīng)力試驗。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。

高加速老化試驗的主要功能如下：

1．利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計缺陷激發(fā)出來，并加以改善；

2. 了解產(chǎn)品的設(shè)計能力及失效模式；

3. 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考；

4. 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵；

5. 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本；

6. 建立產(chǎn)品設(shè)計能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計制造周期。