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        德祥高低溫交變濕熱試驗箱環(huán)境老化測試恒溫恒濕箱

        德祥儀器: 東莞
        溫度范圍: -20-40-60-70~+150℃
        溫度均勻度: ±1.0℃
        單價: 56800.00元/臺
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內發(fā)貨
        所在地: 直轄市 北京
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時間: 2023-12-16 09:21
        最后更新: 2023-12-16 09:21
        瀏覽次數: 279
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        詳細說明

        一、高溫試驗:

        不帶電貯存:70℃,保持48h,恢復2h,測試設備是否工作正常;帶電工作:55℃,保持工作狀態(tài),觀察設備是否正常工作;依據標準:GJB1503A-2009 GBT2423.2等。

        二、低溫試驗:

        不帶電貯存:-40℃保持24h,恢復2h。測試設備是否工作正常:帶電工作:-20℃,保持工作狀態(tài),觀察設備是否正常工作;參考標準:GJB1等。

        按地區(qū)和使用場合不同,GB2423.1-81和GB2423.2-81分別規(guī)定了不同溫度等級的優(yōu)先數值。

        低溫環(huán)境溫度:-65℃,-55"C,-45"C,-40℃,30℃,-25℃-15℃,-10℃,-5℃.0℃,+5℃;

        高溫環(huán)境溫度:+200℃,+17S℃+155℃+125℃+100℃+8S℃+70℃,+65℃,+60℃+55℃,+50℃+45℃,+40℃+3S℃,+30℃。溫度的允許偏差范圍均為±2℃。

        在試驗樣品溫度達到穩(wěn)定后,高、低溫條件試驗的持續(xù)時間根據需要從下列數據中選取:

        2、16、72、95(h)

        測試標準

        GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗*2部分:試驗方法試驗B:高溫 GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗*2部分:試驗方法試驗A:低溫 IEC基本環(huán)境試驗規(guī)程*2-2部分:試驗試驗B:干熱 IEC:2007電工電子產品環(huán)境試驗:低溫


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