材料表面成分分析，元素價態，深度剖析

 X射線光電子能譜儀(XPS)+餓歇電子能譜儀(AES)

XPS利用光電效應的原理，測量X射線激發出的光電子能量和計數，對樣品表面幾個納米深度的范圍內進行半定量的成分和化學態分析；AES利用電子激發出的俄歇電子，對表面進行微區的成分和化學態分析。

測試范圍：

除H和He之外的所有元素

分析深度約5nm(AES約3nm)

檢測下限約0.1%

空間分辨率約30μm(AES約10nm)

服務項目：

各種固體表面的元素成分

化學價態

分子結構分析

深度剖析

深圳市啟威測標準技術服務有限公司提供的專業、高效、實惠的分析測試服務可以幫助客戶節省昂貴儀器費用，管控產品質量，分析產品配方及加速產品研發。

熱分析：DSC、TGA、DSC-TGA、TMA、DMA、旋轉流變儀

色譜分析：GPC、GC、 GC-MS、LC、LC-MS

光譜分析：ICP、XRF、FTIR、XRD

核磁分析NMR：1H、13C、29Si 、31P、17O譜

質譜分析: 高分辨率、低分辨率質譜

粒度分析：馬爾文激光粒度儀、 BET比表面積測試儀

電鏡分析：SEM、TEM、AFM;