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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-15 10:50 |
| 最后更新： | 2023-12-15 10:50 |
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高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。
測(cè)試前先檢查測(cè)試樣品的狀態(tài)，外觀(guān)、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入高低溫箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。
比如高溫70 °C下保持2小時(shí)，然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時(shí)，再?gòu)?20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。
如此循環(huán)，測(cè)試20個(gè)循環(huán)。
測(cè)完后，拿出樣品，檢查測(cè)試后樣品的外觀(guān)、功能、性能等。
如發(fā)現(xiàn)樣品跟測(cè)試前相比無(wú)明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類(lèi)，則表示測(cè)試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。
電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。
高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。
高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。
高低溫測(cè)試對(duì)產(chǎn)品的影響：
一、高溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性，甚至損壞。
如：
1、使絕緣或密封用灌漿膠熔化流失，潤(rùn)滑脂熔化流失，從而引起損塔
2、使材料性能發(fā)生變化
3、彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命
4、加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過(guò)程,縮短產(chǎn)品使用壽命。
二、低溫對(duì)機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品影響是多方面的，并因產(chǎn)品拄能、程度輔結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)而異，如：
1、使電解液凍結(jié)t導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用
2、潤(rùn)滑油粘度增加,甚至冷凝凍結(jié),影響產(chǎn)品起動(dòng)性能
3、影響電子產(chǎn)品正常啟動(dòng),增大儀表誤差
4、使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降。
同時(shí)可提供高低溫測(cè)試（最低-70℃，最高150℃，容量1立方）、灼熱絲測(cè)試、針焰測(cè)試、鹽霧測(cè)試、溫升測(cè)試、跌落測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試等一系列測(cè)試！