安規(guī)測(cè)試 chroma19032接線端子接地電阻測(cè)試 外殼接地電阻測(cè)試

安規(guī)測(cè)試儀用于高電壓元、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)（用交、直流耐壓儀），如硅堆等。主要是用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安全的專用儀器，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻。

1、高壓測(cè)試：

Dielectric Voltage withstand test高壓測(cè)試為一種國(guó)際安規(guī)認(rèn)證機(jī)構(gòu)所要求的必測(cè)項(xiàng)目，產(chǎn)品須于出廠前做百分比的測(cè)試，它對(duì)產(chǎn)品而言，為品質(zhì)的保證及電氣安全性的指標(biāo)，其測(cè)試方式是將一高于正常工作電壓的異常電壓加在產(chǎn)品上測(cè)試，并且這個(gè)電壓須持續(xù)一段時(shí)間，最后判定只要無(wú)絕緣崩潰情形，即可算是通過(guò)此測(cè)試

2、絕緣阻抗測(cè)試

Insulation resistance test絕緣阻抗于相關(guān)的兩點(diǎn)施加直流電壓，最高可達(dá)1000伏特，通常使用單位為歐姆，可判定良品及不良品

3、接地阻抗測(cè)試

Ground bond test接地阻抗測(cè)試為測(cè)試產(chǎn)品的接地點(diǎn)，對(duì)產(chǎn)品的外殼或者金屬部分，施加一個(gè)恒流電源來(lái)測(cè)試兩點(diǎn)間的阻抗大小，一般產(chǎn)品規(guī)定測(cè)試25安培，阻抗不得大于0.1歐姆，而CSA則要求量測(cè)40安培檢測(cè)，可檢測(cè)出接地點(diǎn)螺絲未鎖緊，接地線徑太小，接地線路斷路等問(wèn)題

北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測(cè)試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。

高速電路測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目有：① SI信號(hào)完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測(cè)試、URAT測(cè)試、網(wǎng)口測(cè)試、USB2.0/USB3.0測(cè)試、MIPI測(cè)試、HDMI測(cè)試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測(cè)試。② PI電源完整性測(cè)試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測(cè)試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。