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        X 射線衍射儀 物相分析 XRD測試專業(yè)機(jī)構(gòu)

        品牌: 微源檢測
        實(shí)驗(yàn)室資質(zhì): CMA/CNAS
        服務(wù)范圍: 全國送樣
        單價(jià): 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 浙江 杭州
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時(shí)間: 2023-12-14 01:31
        最后更新: 2023-12-14 01:31
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        詳細(xì)說明

        根據(jù)晶體對 X射線的衍射特征一衍射線的位置、強(qiáng)度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法,就是 X 射線物相分析法。每一種結(jié)晶物質(zhì)都有各自獨(dú)特的化學(xué)組成和晶體結(jié)構(gòu)。沒有任何兩種物質(zhì),它們的晶胞大小、質(zhì)點(diǎn)種類及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。當(dāng)X射線波長與晶體面間距值大致相當(dāng)時(shí)就可以產(chǎn)生衍射。

        當(dāng)X射線被晶體衍射時(shí),每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自已獨(dú)特的衍射花樣,它們的特征可以用各個(gè)衍射品面間距d 和射線的相對強(qiáng)度 I/I1來表征。其中晶面間距 d 與晶胞的形狀和大小有關(guān)相對強(qiáng)度則與質(zhì)點(diǎn)的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)d和I/1 是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映,可以根據(jù)它們來鑒別結(jié)晶物質(zhì)的物相。如果您需要了解更多X 射線衍射儀物相分析測試技術(shù)的信息,請聯(lián)系我們,微源檢測實(shí)驗(yàn)室將為您安排負(fù)責(zé)的工程師答疑并針對樣品需求情況提供專業(yè)的服務(wù)。歡迎致電咨詢!


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