| 品牌： | 微源檢測 |
| 實驗室資質： | CMA/CNAS |
| 服務范圍： | 全國送樣 |
| 單價： | 面議 |
| 發(fā)貨期限： | 自買家付款之日起 天內發(fā)貨 |
| 所在地： | 浙江 杭州 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 發(fā)布時間： | 2023-12-14 01:31 |
| 最后更新： | 2023-12-14 01:31 |
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根據(jù)晶體對 X射線的衍射特征一衍射線的位置、強度及數(shù)量來鑒定結晶物質之物相的方法，就是 X 射線物相分析法。每一種結晶物質都有各自獨特的化學組成和晶體結構。沒有任何兩種物質，它們的晶胞大小、質點種類及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。當X射線波長與晶體面間距值大致相當時就可以產(chǎn)生衍射。
因此，當X射線被晶體衍射時，每一種結晶物質都有自已獨特的衍射花樣，它們的特征可以用各個衍射品面間距d 和射線的相對強度 I/I1來表征。其中晶面間距 d 與晶胞的形狀和大小有關相對強度則與質點的種類及其在晶胞中的位置有關。所以任何一種結晶物質的衍射數(shù)據(jù)d和I/1 是其晶體結構的必然反映，因而可以根據(jù)它們來鑒別結晶物質的物相。如果您需要了解更多X 射線衍射儀物相分析測試技術的信息，請聯(lián)系我們，微源檢測實驗室將為您安排負責的工程師答疑并針對樣品需求情況提供專業(yè)的服務。歡迎致電咨詢！