DDR測(cè)試，PCB板信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，高速電路測(cè)試，硬件單板測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)試項(xiàng)目：DDR3 眼圖測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試

   
     目前主流的DDR2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR2-1066的1066MT/S、533MHz、1.8V電壓。另外，低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計(jì)算機(jī))和顯存GDDR也是DDR的發(fā)展變化版本。目前主流的DDR也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR3-1600,1.5V電壓。另外，低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計(jì)算機(jī))也是DDR的發(fā)展趨勢(shì)之。

    DDR采用了2位預(yù)取(2-bit prefetch)，也就是2：1的數(shù)據(jù)預(yù)取，2bit預(yù)取架構(gòu)允許內(nèi)部的隊(duì)列(column)工作頻率僅僅為外部數(shù)據(jù)傳輸頻率的一半。在SDRAM中數(shù) 據(jù)傳輸率完全參考時(shí)鐘信號(hào)，因此數(shù)據(jù)傳輸率和時(shí)鐘頻率一樣。DDR2采了4位預(yù)取(4-bit prefetch)，這就是DDR2提高數(shù)據(jù)傳輸率的關(guān)鍵，可以在不提高內(nèi)部存儲(chǔ)陣列頻率的情況下提高數(shù)據(jù)輸出帶寬，未來(lái)的DDR3還有現(xiàn)在的RDRAM 采用了8位數(shù)據(jù)預(yù)取。

DDR3眼圖測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試

工作原理：DDR3 眼圖測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試



DDR-CLOCK diff 測(cè)試圖：DDR3 眼圖測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試

測(cè)試環(huán)境：DDR3 眼圖測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試

   DDRA的功能特性如下

   1.新的自動(dòng)配置向?qū)?，引?dǎo)用戶簡(jiǎn)便地完成設(shè)置和測(cè)試配置;

   2.可識(shí)別和分析整個(gè)采集中的所有讀/寫(xiě)突發(fā);

   3.為讀和寫(xiě)繪制DQS和DQ眼圖;

   4.使用Pass/Fail極限執(zhí)行JEDEC一致性測(cè)試;

   5.使用片選判定多排測(cè)量;

　 6.簡(jiǎn)便地在一致性測(cè)試工具和分析/調(diào)試工具之間切換;

　 7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計(jì)測(cè)量結(jié)果和測(cè)試設(shè)置信息，自動(dòng)生成合并報(bào)告。
       DDRA不是種獨(dú)立式工具，可直接與泰克強(qiáng)大的抖動(dòng)、眼圖和定時(shí)分析工具DPOJE連接，完成更多測(cè)量項(xiàng)目：

　 1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時(shí)間測(cè)量;

對(duì)于DDR的數(shù)字調(diào)試和驗(yàn)證，泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了DDR2/3存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)采集、分析和協(xié)議檢驗(yàn)及調(diào)試解決方案。