DDR測試系統(tǒng)，實(shí)驗(yàn)室硬件測試，研發(fā)快訊

DDR測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介
測試項(xiàng)目：DDR測試系統(tǒng)

   
     目前主流的DDR2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR2-1066的1066MT/S、533MHz、1.8V電壓。低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計(jì)算機(jī))和顯存GDDR也是DDR的發(fā)展變化版本。目前主流的DDR也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓，已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR3-1600,1.5V電壓。低能耗DDR(LP-DDR，用于便攜式計(jì)算機(jī))也是DDR的發(fā)展趨勢之。

    我們知道DRAM內(nèi)部存儲單元的頻率提高比較困難且成本較高，DDR333的核心頻 率已經(jīng)達(dá)到了167MHz，為了解決外部數(shù)據(jù)傳輸率和核心速度之間的矛盾，DDR2采用了4bit Prefetch(數(shù)據(jù)預(yù)取架構(gòu))，DDR2 400的核心頻率僅為100MHz，DDR2 533的核心頻率為133MHz，DDR2很好的解決了DRAM核心頻率和外部數(shù)據(jù)傳輸頻率之間的問題。

　從SDRAM開始，內(nèi)存就可以和時鐘同步，初的SDRAM采用了管線架構(gòu) (Pipeline architecture)，是地址信號(Add)和時鐘(CLK)同步，地址信號經(jīng)過譯碼選取內(nèi)存隊(duì)列中相應(yīng)的單元，內(nèi)存隊(duì)列中選中的數(shù)據(jù)通過內(nèi)部 數(shù)據(jù)總線輸出到信號放大電路。SDRAM的信號輸出部分也是和時鐘信號同步的，這就好象一條連續(xù)的管線一樣。由于全部操作都和時鐘同步，也叫同步內(nèi) 存。

　DDR采用了2位預(yù)取(2-bit prefetch)，也就是2：1的數(shù)據(jù)預(yù)取，2bit預(yù)取架構(gòu)允許內(nèi)部的隊(duì)列(column)工作頻率僅僅為外部數(shù)據(jù)傳輸頻率的一半。在SDRAM中數(shù) 據(jù)傳輸率完全參考時鐘信號，數(shù)據(jù)傳輸率和時鐘頻率一樣。DDR2采了4位預(yù)取(4-bit prefetch)，這就是DDR2提高數(shù)據(jù)傳輸率的關(guān)鍵，可以在不提高內(nèi)部存儲陣列頻率的情況下提高數(shù)據(jù)輸出帶寬，未來的DDR3還有現(xiàn)在的RDRAM 采用了8位數(shù)據(jù)預(yù)取。

測試環(huán)境：DDR測試系統(tǒng)

   DDRA的功能特性如下

   1.新的自動配置向?qū)?，引?dǎo)用戶簡便地完成設(shè)置和測試配置;

   2.可識別和分析整個采集中的所有讀/寫突發(fā);

   3.為讀和寫繪制DQS和DQ眼圖;

   4.使用Pass/Fail極限執(zhí)行JEDEC一致性測試;

   5.使用片選判定多排測量;

　 6.簡便地在一致性測試工具和分析/調(diào)試工具之間切換;

　 7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計(jì)測量結(jié)果和測試設(shè)置信息，自動生成合并報告。
       DDRA不是種獨(dú)立式工具，可直接與泰克強(qiáng)大的抖動、眼圖和定時分析工具DPOJE連接，完成更多測量項(xiàng)目：

　 1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時間測量;

對于DDR的數(shù)字調(diào)試和驗(yàn)證，泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了DDR2/3存儲器數(shù)據(jù)采集、分析和協(xié)議檢驗(yàn)及調(diào)試解決方案。

配件

測試夾具：DDR測試系統(tǒng)