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        電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試報(bào)告辦理流程

        單價(jià): 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時(shí)間: 2023-12-13 19:36
        最后更新: 2023-12-13 19:36
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          電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試主要測(cè)試哪些項(xiàng)目?電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的一系列測(cè)試,以評(píng)估其在各種條件下的穩(wěn)定性和可靠性。優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,實(shí)驗(yàn)室具備電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性CNAS測(cè)試資質(zhì)和測(cè)試能力,可提供電子產(chǎn)品第三方可靠性測(cè)試服務(wù),并可出具國家認(rèn)可的中英文檢測(cè)報(bào)告。


          電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目


          電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試主要包括以下幾種:


          1.高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模嚎己嗽诓皇┘与姂?yīng)力的情況下,高溫存儲(chǔ)對(duì)產(chǎn)品的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài),是一種不穩(wěn)定態(tài),由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過程,也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。


          這種過渡一般情況下是物理化學(xué)變化,其速率遵循阿倫尼烏斯公式,隨溫度成指數(shù)增加。高溫應(yīng)力的目的是為了縮短這種變化的時(shí)間。所以該實(shí)驗(yàn)又可以視為一項(xiàng)穩(wěn)定產(chǎn)品性能的工藝。


          2.溫度循環(huán)試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對(duì)極端高溫和極端低溫環(huán)境的承受能力,是針對(duì)產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí),溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。


          溫度循環(huán)試驗(yàn)在氣體環(huán)境下進(jìn)行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時(shí)的溫度和時(shí)間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗(yàn)箱內(nèi)氣體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗(yàn)條件的重要因素。


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          3.熱沖擊試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受溫度劇烈變化,即承受大溫度變化速率的能力。試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的基本一致,但熱沖擊試驗(yàn)的條件比溫度循環(huán)試驗(yàn)要嚴(yán)酷得多。


          4.低氣壓試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品對(duì)低氣壓工作環(huán)境(如高空工作環(huán)境)的適應(yīng)能力。當(dāng)氣壓減小時(shí)空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度會(huì)減弱;易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離;氣壓減小使散熱條件變差,會(huì)使元器件溫度上升。這些因素都會(huì)使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能,有時(shí)會(huì)產(chǎn)生yongjiu性損傷。


          5.耐濕試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模阂允┘蛹铀賾?yīng)力的方法評(píng)定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力,是針對(duì)典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計(jì)的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗(yàn)也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性,電解會(huì)使絕緣材料電阻發(fā)生變化,使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/p>


          6.鹽霧試驗(yàn)


          試驗(yàn)?zāi)康模阂约铀俚姆椒ㄔu(píng)定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力,是針對(duì)熱帶海邊或海上氣候環(huán)境設(shè)計(jì)的。表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧、潮濕和炎熱條件下外露部分會(huì)產(chǎn)生腐蝕。


          電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試報(bào)告辦理流程


          1.前期咨詢:提供需委托檢測(cè)項(xiàng)目、測(cè)試條件或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn);


          2.評(píng)估報(bào)價(jià):根據(jù)檢測(cè)要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評(píng)估報(bào)價(jià);


          3.填寫委托書:向億博發(fā)起檢測(cè)申請(qǐng),填寫委托書(會(huì)有專人指導(dǎo)填寫);


          4.付款及提供樣品資料:按照協(xié)定報(bào)價(jià)支付費(fèi)用,按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料;


          5.安排檢測(cè):按委托要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè);


          6.出具報(bào)告:依據(jù)檢測(cè)數(shù)據(jù)出具報(bào)告,將報(bào)告、發(fā)票及樣品回寄客戶。



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