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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-13 19:16 |
| 最后更新： | 2023-12-13 19:16 |
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億博檢測(cè)可提供高低溫測(cè)試服務(wù)，實(shí)驗(yàn)室具備高低溫等環(huán)境可靠性試驗(yàn)CNAS測(cè)試資質(zhì)和測(cè)試能力，可提供第三方高低溫測(cè)試服務(wù)，并可出具認(rèn)可的中英文檢測(cè)報(bào)告。
我司可開展高低溫測(cè)試溫度范圍：
低溫試驗(yàn)：-70℃~常溫；
高溫試驗(yàn)：常溫~500℃；
恒定濕熱試驗(yàn)：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
交變濕熱試驗(yàn)：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
溫度變化試驗(yàn)：-70℃~170℃；
低溫/低氣壓試驗(yàn)：氣壓（0.5kPa-100kPa），溫度范圍（-15℃~常溫）；
高溫/低氣壓試驗(yàn)：氣壓（0.5kPa-100kPa），溫度范圍（-15℃~200℃）；
溫度/濕度試驗(yàn)：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)：溫度范圍（105℃-145℃）,濕度范圍（75%~****RH）；
恒定濕熱試驗(yàn)：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
我司可開展以下標(biāo)準(zhǔn)高低溫測(cè)試服務(wù)：
GJB《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法第3部分：高溫試驗(yàn)》
GB/T 2423.2-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》
GJB《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法第4部分：低溫試驗(yàn)》
GB/T 2423.1-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》
GJB《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)》
GJB《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法溫度—高度試驗(yàn)》
GB/T 2423.22-2012/IEC 4:2009《環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》
GB/T 2423.3-2016/IEC :2012《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》
GB/T 2423.40-2013/IEC :1994《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱》
GB/T 2423.50-2012/IEC :1995《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)》
IEC :1995+A1:2019《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)》
GJB《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法第9部分：濕熱試驗(yàn)》
GB/T 2423.4-2008(IEC :2005)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）》
GB/T 2423.34-2012(IEC :2009)《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》
IEC :2021《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》