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        電子產(chǎn)品可靠性測試辦理中心-第三方可靠性測試機(jī)構(gòu)

        單價: 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時間: 2023-12-13 16:01
        最后更新: 2023-12-13 16:01
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          電子產(chǎn)品可靠性測試實驗室


          電子產(chǎn)品可靠性測試是指對電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的一系列測試,以評估其在各種條件下的穩(wěn)定性和可靠性。億博檢測是專業(yè)電子產(chǎn)品可靠性測試實驗室,實驗室具備電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性CNAS測試資質(zhì)和測試能力,可提供電子產(chǎn)品第三方可靠性測試服務(wù),并可出具國家認(rèn)可的中英文檢測報告。


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          電子產(chǎn)品可靠性測試目的


          1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;


          2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;


          3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗收;


          4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;


          5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。


          電子產(chǎn)品可靠性測試項目


          電子產(chǎn)品可靠性測試主要包括以下幾種:


          1.高溫存儲試驗


          試驗?zāi)康模嚎己嗽诓皇┘与姂?yīng)力的情況下,高溫存儲對產(chǎn)品的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài),是一種不穩(wěn)定態(tài),由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過程,也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。


          這種過渡一般情況下是物理化學(xué)變化,其速率遵循阿倫尼烏斯公式,隨溫度成指數(shù)增加。高溫應(yīng)力的目的是為了縮短這種變化的時間。所以該實驗又可以視為一項穩(wěn)定產(chǎn)品性能的工藝。


          2.溫度循環(huán)試驗


          試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對極端高溫和極端低溫環(huán)境的承受能力,是針對產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。


          溫度循環(huán)試驗在氣體環(huán)境下進(jìn)行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時的溫度和時間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗箱內(nèi)氣體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗條件的重要因素。


          3.熱沖擊試驗


          試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受溫度劇烈變化,即承受大溫度變化速率的能力。試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的基本一致,但熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴(yán)酷得多。


          4.低氣壓試驗


          試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品對低氣壓工作環(huán)境(如高空工作環(huán)境)的適應(yīng)能力。當(dāng)氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度會減弱;易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗增加、電離;氣壓減小使散熱條件變差,會使元器件溫度上升。這些因素都會使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能,有時會產(chǎn)生yongjiu性損傷。


          5.耐濕試驗


          試驗?zāi)康模阂允┘蛹铀賾?yīng)力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力,是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性,電解會使絕緣材料電阻發(fā)生變化,使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/p>


          6.鹽霧試驗


          試驗?zāi)康模阂约铀俚姆椒ㄔu定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力,是針對熱帶海邊或海上氣候環(huán)境設(shè)計的.表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧、潮濕和炎熱條件下外露部分會產(chǎn)生腐蝕。


          電子產(chǎn)品可靠性測試報告辦理流程


          1.前期咨詢:提供需委托檢測項目、測試條件或測試標(biāo)準(zhǔn);


          2.評估報價:根據(jù)檢測要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評估報價;


          3.填寫委托書:向億博發(fā)起檢測申請,填寫委托書(會有專人指導(dǎo)填寫);


          4.付款及提供樣品資料:按照協(xié)定報價支付費用,按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料;


          5.安排檢測:按委托要求對產(chǎn)品進(jìn)行檢測;


          6.出具報告:依據(jù)檢測數(shù)據(jù)出具報告,將報告、發(fā)票及樣品回寄客戶。



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