利用電子顯微術力求觀察到更微小的物體結"/>
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所在地: | 江蘇 蘇州 |
有效期至: | 長期有效 |
發布時間: | 2023-11-29 03:11 |
最后更新: | 2023-11-29 03:11 |
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sem檢測就是掃描電鏡檢測,隨著科學技術的發展,掃描電鏡已成為檢測固體物質的重要手段。利用電子顯微術力求觀察到更微小的物體結構,甚至單個原子;力求從試樣上得到更多的信息,以便對其
進行各種研究。由于掃描電鏡具有分辨能力高,景深長,視野大,成像富有立體感,可以直接觀察樣品凹凸不平的表面,例如金屬斷口,催化劑表面,無機非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進
行電子通道花樣分析,從而研究試樣微區的晶體學位向,晶體對稱性,應變稱度和位錯密度等問題。
檢測內容
掃描電子顯微鏡主要用于對材料形貌/尺寸進行觀察并分析,對帶有鍍層的材料膜層分析、對材料微區進行EDS元素分析、細胞觀察,在對材料進行失效分析時進行元素測定、金相分析等。廣泛用
于材料、化學、生物、醫學、地質等領域。
檢測標準
產品名稱.
檢測項目
檢測標準
sem檢測
常規形貌高分辨形貌BSE背散射,能譜EDS點掃線掃面掃等
GA/T1418-2017、