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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-11-24 10:46 |
| 最后更新： | 2023-11-24 10:46 |
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項(xiàng)目介紹
低溫測(cè)試的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫的影響
1、使材料發(fā)硬變脆；
2、潤(rùn)滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤(rùn)滑作用減?。?/p>
3、電子元器件性能發(fā)生變化；
4、水冷凝結(jié)冰；
5、密封件失效；
6、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
應(yīng)用范圍
低溫測(cè)試主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。
方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》