光電子器件檢測機(jī)構(gòu)

光電子器件是光電子技術(shù)的關(guān)鍵和核心部件，是現(xiàn)代光電技術(shù)與微電子技術(shù)的前沿研究領(lǐng)域，是信息技術(shù)的重要組成部分。

光電子器件檢測周期：7-10個(gè)工作日(參考周期、可加急)

光電子器件檢測標(biāo)準(zhǔn)（部分）

1、 GJB 8119-2013 半導(dǎo)體光電子器件通用規(guī)范

2、 SJ 2247-1982 半導(dǎo)體光電子器件外形尺寸

3、 GB 12565-1990 半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范

4、 GJB 33/20-2011 半導(dǎo)體光電子器件 GH302型光電耦合器詳細(xì)規(guī)范

5、 SJ 50033/112-1996 半導(dǎo)體光電子器件.GD3251Y型光電二極管詳細(xì)規(guī)范

6、 SJ 50033/113-1996 半導(dǎo)體光電子器件.GD3252Y型光電二極管詳細(xì)規(guī)范

7、 GJB 33/19-2011 半導(dǎo)體光電子器件 GH302-4型光電耦合器詳細(xì)規(guī)范

光電子器件檢測范圍

硅基光電子器件、光電子器件組件、半導(dǎo)體光電子器件、納米光電子器件、石墨烯光電子器件、集成電路光電子器件、柔性光電子器件、jungong光電子器件等。

光電子器件檢測項(xiàng)目

外觀質(zhì)量、規(guī)格尺寸、失效分析、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、變頻振動(dòng)試驗(yàn)、光纖扭力測試、SEM檢查、X射線檢查、X射線照相、內(nèi)部檢查、內(nèi)部目檢、剪切強(qiáng)度、可焊性試驗(yàn)、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查、聲學(xué)檢查、外部檢查、常規(guī)檢測、第三方檢測、現(xiàn)場檢測等。（具體以客戶實(shí)際情況為準(zhǔn)）

光電子器件檢測流程

1、聯(lián)系客服、溝通檢測需求；

2、根據(jù)實(shí)際情況確定樣品遞送流程、上門取樣、送樣、郵寄樣品；

3、對樣品進(jìn)行初步、獲取樣品的特性以及相關(guān)指標(biāo)；

4、根據(jù)客戶的需求、根據(jù)檢測經(jīng)驗(yàn)及標(biāo)準(zhǔn)方法、定制試驗(yàn)方案；

5、進(jìn)行試驗(yàn)、得到試驗(yàn)數(shù)據(jù)、出具測試報(bào)告；

6、完善的售后服務(wù)、可隨時(shí)咨詢；

上海復(fù)達(dá)檢測是法定第三方檢測機(jī)構(gòu)，具有CMA、CNAS等資質(zhì)，光電子器件檢測服務(wù)面向全國，包含上海、北京、天津、沈陽、濟(jì)南、南京、蘇州、杭州、寧波、合肥、鄭州、武漢、長沙、廣州、深圳、成都、西安等地區(qū)。