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        現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)化學(xué)成分熒光分析,現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)材料牌號(hào)鑒定,金屬檢測(cè)

        檢測(cè)類型: 委托檢測(cè)
        收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn): 電議
        服務(wù)地區(qū): 廣州,佛山,深圳,東莞,肇慶,中山
        單價(jià): 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 廣東 佛山
        有效期至: 長(zhǎng)期有效
        發(fā)布時(shí)間: 2023-11-23 20:05
        最后更新: 2023-11-23 20:05
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        現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)化學(xué)成分熒光分析,現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)材料牌號(hào)鑒定,金屬檢測(cè)單位,隨時(shí)可咨詢


        現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)材料牌號(hào)鑒定

        檢測(cè)儀器:美國(guó)NICON XL2 手持式合金分析儀

        鑒定定義: 對(duì)未知金屬材料及其制品化學(xué)元素含量進(jìn)行檢測(cè),通過對(duì)比鋼號(hào)化學(xué)元素含及其分析確定材料牌號(hào)。

        檢測(cè)范圍:可到客戶現(xiàn)場(chǎng)對(duì)未知的合金結(jié)構(gòu)鋼、合金工模鋼、碳鋼、不銹鋼等金屬材料及其制品進(jìn)行檢測(cè),確定材料牌號(hào)。

        檢測(cè)特點(diǎn):

        1、無損檢測(cè),與破壞性檢測(cè)方法不同,樣品在整個(gè)測(cè)試過程中午任何損壞,

        2、無需制做樣品,直接測(cè)量實(shí)件,

        3、精度高,接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平,可直觀顯示合金 牌號(hào)和元素百分比含量(某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位)及ppm含量,

        4、速度快,操作簡(jiǎn)單,“開機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”,整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成,合金 牌號(hào)鑒別只需1~2秒鐘。

        5、直接顯示牌號(hào) 

        化學(xué)元素:

        黑色金屬:C、S、P、Mn、Si、Cr、Ni、Cu、Mo、V、Ti、Al、W、Nb、B;

        不銹鋼:C、S、P、Mn、Si、Cr、Ni、Cu、Mo、Ti、Al、W。

        校正方法:

        1、標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)樣品:修正由于各種原引起的儀器測(cè)量對(duì)校準(zhǔn)曲線的偏離,保證穩(wěn)定的XRF強(qiáng)度。

        2、控制樣品:選擇與被檢測(cè)樣品一致或接近的化學(xué)成份、組織結(jié)構(gòu)、按國(guó)家規(guī)定方法定值,對(duì)檢測(cè)樣品的測(cè)定結(jié)果校正。

        執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

        1、JJG 768-2005 發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程

        2、其他相對(duì)應(yīng)ISO、EN、ASTM等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)


        金屬材料實(shí)驗(yàn)室建設(shè):光譜分析檢測(cè)方法

        光譜分析法是當(dāng)前比較先進(jìn)的一種物質(zhì)檢測(cè)方法,主要是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì)的化學(xué)組成以及相對(duì)含量的一種方法,是-金屬原子的光譜為基礎(chǔ)所建立的一種分析方法,具體的實(shí)施過程中分為三部分,分別是能源提供能量、能量與被測(cè)物質(zhì)相互作用以及產(chǎn)生被檢測(cè)訊號(hào)。光譜法也分為多種類型,常用的是吸收光譜法以及發(fā)射光譜法,這是根據(jù)不同金屬原子能級(jí)分布是特征的,從而得出其光譜也是特征的,由此定性的進(jìn)行特征光譜的分析可以得出相應(yīng)的金屬檢測(cè)結(jié)果。

        主要測(cè)試項(xiàng)目

        材質(zhì)成分分析:采用直讀光譜儀(OES)ASTM E1251-11 &GB/T 7999-2007,等離子體發(fā)射光譜(ICP)GB/T 20975.25-2008,滴定法等對(duì)材料進(jìn)行分析,并可鑒定牌號(hào)。



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