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        碳化物不均勻度測量 碳化物深度測量

        廠家: 華瑞測
        型號: TH15
        周期: 3-7天
        單價: 面議
        發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時間: 2023-11-12 08:02
        最后更新: 2023-11-12 08:02
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        詳細說明

        碳化物不均勻度測量 碳化物深度測量 使用掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實現(xiàn)多種分析功能。

        在掃描電子顯微鏡上安裝許多附件,可以實現(xiàn)一機多用,成為了一種快速、直觀、綜合性分析儀器。

        圖1

        目前掃描電子顯微鏡的最主要組合分析功能

        X射線顯微分析系統(tǒng),也就是能譜儀,EDS

        主要用于元素的定性和定量分析,并可分析樣品微區(qū)的化學(xué)成分等信息。

        圖2

        背散射電子衍射系統(tǒng),也就是結(jié)晶學(xué)分析系統(tǒng),主要用于晶體和礦物的研究。

        掃描電子顯微鏡組合分析功能,例如,顯微熱臺和冷臺系統(tǒng),主要用于觀察和分析材料在加熱和;冷凍過程中微觀結(jié)構(gòu)上的變化。

        拉伸臺系統(tǒng),主要用于觀察和分析材料在受力過程中所發(fā)生的微觀結(jié)構(gòu)變化。

        掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備組合而具有的新型分析功能為新材料、新工藝的探索和研究起到重要作用。


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